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高溫介電溫譜儀

簡要描述:高溫介電溫譜儀主要應用于高溫下材料的介電性能測試與分析,包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù),同時測試出測試材料的其它阻抗參數(shù),廣泛應用于陶瓷材料、半導體器件及功能薄膜材料等研究 。

  • 產(chǎn)品型號:GWJD-1000
  • 廠商性質:生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-06-04
  • 訪  問  量: 2074

詳細介紹

   

高溫介電溫譜儀可以測量樣品的介電常數(shù)、介電損耗,電容C,損耗D,電感L,品質因數(shù)Q,阻抗Z等物理量;以實現(xiàn)介電常數(shù)和介電損耗隨多個溫度、多個頻率變化的曲線,時間和電壓變化的曲線

一、產(chǎn)品優(yōu)勢:

1.耐高溫、1000°C不氧化,電極阻抗低、絕緣好.

2.四通道測試,可以同時測試1-4個樣品,方便快捷

3.數(shù)據(jù)分析軟件:提供多種掃描曲線,可以在多窗口之間切換數(shù)據(jù)

二、符合標準

《符合ASTMD150 D2149-97標準》

<<符合GB/T1409-2006介電常數(shù)和介電損耗的推薦方法;

三、高溫介電溫譜儀產(chǎn)品特點

1.可以在高溫、寬頻、真空條件下測量固體、薄膜樣品的介電性能;

2.可以分樣品的頻率譜、溫度譜、偏壓譜、阻抗譜、介電譜、時間譜等測量功能;

3.可以測量樣品的介電常數(shù)、介電損耗,電容C,損耗D,電感L,品質因數(shù)Q,阻抗Z等物理量;以實現(xiàn)介電常數(shù)和介電損耗隨多個溫度、多個頻率變化的曲線,時間和電壓變化的曲線;

4、可提供塊體,薄膜,單樣品,四樣品夾具,滿足不同測試要求。

特點:

測量溫度:室溫-1000°C

升溫斜率:2°C/min

頻率范圍:20-30MHZ

精度:0.05%

測量精度:±0.1°C

控溫精度:±1°CPID精準控溫)

高溫樣品桿:耐高溫、1000°C不氧化,電極阻抗低、絕緣好

測試方法:兩線法或四線法

測試通道數(shù):1-4通道

一次可測樣品數(shù):1-4個樣品

樣品尺寸:直徑小于2-10mm,厚度小于1-10mm,樣品放置位置靈活,可快捷安裝和拆卸

測量精度:0.05%

AC電平:0V 1V rms

直流偏壓:0±40V/100mA

數(shù)據(jù)存儲:EXCEL表格等多種格式

加熱方式:電阻絲加熱

真空度范圍:100 Pa-1大氣壓

電極材料:鉑金

數(shù)據(jù)傳輸:4USB接口

儀器通訊:USBGPIB

技術指標:

1、電極直徑:6mm  數(shù)量:1

2、電機屏蔽:內徑--304不銹鋼  外徑--聚四氟

3、測試電極:一通道

4、切換頻率:可以自由設定試樣切換時間

5、試驗方式:手動模式  自動模式

6、試驗數(shù)據(jù):可導出測試原始數(shù)據(jù),同時可以輸出測試曲線及打印試驗報告

7、測量頻率:以實際電橋為準

8、溫度范圍:0-1000 K型熱電偶:0.5%

9、溫度精度:±0.25°C

10、加溫速率:1--20/min

11、數(shù) 據(jù) 線:銅鍍銀,高低溫屏蔽線

12、機  箱:Q235鋼板表面高溫噴塑而成

13、儀器供電:AC:220V  50Hz   功率:2KW

14、測試電橋:國產(chǎn)

15、試驗環(huán)境:請不要在多塵、多震動、日光直曬、有腐蝕氣體下使用。

儀器使用時應遠離強電磁場,以免干擾實驗結果。

整機組成:

1、加溫裝置:采用陶瓷纖維外旦內部嵌入加熱絲組成,有著良好地保溫隔熱和升溫性能

2、控制系統(tǒng):可實現(xiàn)對溫控升溫控制,實時測控測試數(shù)據(jù)

3LCR電橋:國產(chǎn)




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